دانلود رایگان ترجمه مقاله آزمایش یک سیستم روی یک تراشه با میکروپروسسور تعبیه شده (نشریه IEEE 1999) (ترجمه رایگان – برنزی ⭐️)

آزمایش یک سیستم روی یک تراشه با میکروپروسسور تعبیه شده

Testing a system-on-a-chip with embedded microprocessor

کیفیت ترجمه این مقاله پایین میباشد 

ترجمه این مقاله به صورت ناقص انجام شده است.

چکیده
۱- مقدمه
۲- آزمایش هسته میکروپروسسور
۲-۱ ساختار آزمون برای هسته میکروپروسسور
۲-۲ توالی آزمون برای هسته میکروپروسسور
۳- آزمایش حافظه های تعبیه شده
۳-۱ رویه آزمون
۴- آزمایش هسته های خاص تابع
۴-۱ رویه آزمون

چکیده

در این مقاله، ما روش آزمون برای هسته های تعبیه شده بر اساس سیستم روی یک تراشه (SoC) را که شامل یک هسته میکروپروسسور می شود آزمایش می کنیم. ابتداً هسته میکروپروسسور برای صحت تمام دستورالعمل ها آزمایش می شود و سپس قدرت محاسبه هسته میکروپروسسور برای آزمایش حافظه های روی تراشه و دیگر هسته ها استفاده می شود. یک مجموعه آزمون iddq نیز برای آشکارسازی عیوب فیزیکی استفاده می شود و ویژگی های طراحی برای تسهیل آزمون Iddq توصیف می شوند.

۱- مقدمه
در سال های اخیر، فناوری ASIC از فلسفه تنظیم-تراشه به یک مفهوم سیستم روی یک تراشه مبتنی بر هسته های تعبیه شده (SoC) تکامل یافته است. یک SoC شامل بلوک های وظیفه ای قابل استفاده مجدد مختلف به نام هسته هایی مانند حافظه ها، میکروپروسسورها، DSPها، کنترل باس و واسطه هایی مانند PCI و USB می شود. در حالیکه استفاده از هسته ها در SoC به عنوان گستره وسیعی از کاربردها به کار گرفته می شود، پیچیدگی این تراشه ها بسیار فراتر از آنست که توسط روش های مرسوم آزمایش شود [۱]. مرجع [۲]، یک مرور کلی مناسب را برای مشکلات آزمون فراهم می کند. یک مقدار اساسی برای جستجو، برای پرداختن به مشکلات آزمون، مورد بررسی است [۱-۵]. در تولید SoC، ترکیبی از روش های آزمون مانند آزمون وظیفه ای، اسکن کامل، BIST، Iddq و غیره استفاده می شوند. به معنای گسترده تر، هسته های فردی توسط یک یا چند روش زیر آزمایش می شوند:
۱- آزمایش یک هسته از طریق آزمایش وظیفه ای سیستم-تراشه
۲- کاربرد آزمون مستقیم در حین دسترسی به هسته از طریق مالتی پلکس نمودن پین I/O
۳- کاربرد آزمون برای هسته از طریق اسکن مرز موضعی یا یک ثبات؛
۴- اسکن نمودن خودآزمون توکار از طریق انواع مکانیزم های دسترسی و کنترل
۵- راه حل های مناسب؛
در این مقاله، ما یک روش آزمون را برای SoC توصیف می کنیم که شامل یک هسته میکروپروسسور می شود. روش آزمون می تواند به چهار زیرمجموعه تقسیم شود: (i) آزمایش هسته میکروپروسسور توسط اطمینان از صحت تمام دستورالعمل های آن؛ (ii) استفاده از هسته میکروپروسسور برای آزمایش حافظه های تعبیه شده؛ (iii) استفاده از هسته میکروپروسسور برای آزمایش دیگر هسته ها؛ (iv) پیاده سازی و طراحی برای آزمایش Iddq. اساساً از بخش ۲ تا ۵، این مقاله به چهار قسمت سازماندهی شده است که هر کدام یک زیرمجموعه از روش آزمون را توصیف می کند و نهایتاً بخش ۶ شامل نتیجه گیری ها می شود.

Abstract

Abstract: In this paper, we describe the test methodology for embedded cores based system-on-a-chip (SoC) which contains a microprocessor core. First the microprocessor core is tested for correctness of all the instructions and then the computation power of the microprocessor core is used to test the on-chip memories and other cores, A small Iddq test set is also used to detect physical defects. The design features to facilitate Iddq testing are described.

آزمایش یک سیستم روی یک تراشه با میکروپروسسور تعبیه شده

Testing a system-on-a-chip with embedded microprocessor