دانلود مقاله ترجمه شده تشخیص عیب براساس شیفت میانگین سطوح ویفر خورشیدی چند کریستالی – مجله IEEE

ieee2

 

دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی

 

عنوان فارسی مقاله:

تشخیص نقص مبتنی بر شیفت میانگین سطوح ویفر خورشیدی چند – کریستالی

عنوان انگلیسی مقاله:

Mean Shift-Based Defect Detection in Multicrystalline Solar Wafer Surfaces

  • برای دانلود رایگان مقاله انگلیسی با فرمت pdf بر روی عنوان انگلیسی مقاله کلیک نمایید.
  • برای خرید و دانلود ترجمه فارسی آماده با فرمت ورد، روی عنوان فارسی مقاله کلیک کنید.

 

مشخصات مقاله انگلیسی (PDF)
سال انتشار ۲۰۱۱
تعداد صفحات مقاله انگلیسی ۱۱ صفحه با فرمت pdf
رشته های مرتبط با این مقاله مهندسی انرژی و مهندسی برق
گرایش های مرتبط با این مقاله تولید، انتقال و توزیع، مهندسی الکترونیک، افزاره های میکرو و نانو الکترونیک، مدارهای مجتمع الکترونیک، انرژی های تجدید پذیر، سیستم های انرژی و فناوریهای انرژی
مجله نتایج بدست آمده در حوزه انفورماتیک صنعتی
دانشگاه دانشگاه Yuan-Ze، مهندسی صنایع و مدیریت، تایوان
کلمات کلیدی تشخیص نقص، دید ماشین، شیفت میانگین، ویفر خورشیدی چند-کریستالی، بازرسی سطح
شناسه شاپا یا ISSN ISSN ۱۹۴۱-۰۰۵۰
رفرنس دارد
لینک مقاله در سایت مرجع لینک این مقاله در سایت IEEE
نشریه آی تریپل ای

 

مشخصات و وضعیت ترجمه فارسی این مقاله (Word)
تعداد صفحات ترجمه تایپ شده با فرمت ورد با قابلیت ویرایش و فونت ۱۴ B Nazanin ۳۲ صفحه
ترجمه عناوین تصاویر ترجمه شده است
ترجمه متون داخل تصاویر ترجمه شده است
درج تصاویر در فایل ترجمه درج شده است
درج فرمولها و محاسبات در فایل ترجمه به صورت عکس درج شده است

 


  • فهرست مطالب:

 

چکیده
۱. پیشگفتار
۲. تشخیص نقش با استفاده از شیفت-میانگین
A. الگوریتم شیفت میانگین
B. طرح ارائه شده‌ی بازرسی ویفر خورشیدی چند-کریستالی
C. انتخاب مقادیر پارامتر شیفت-میانگین
۳. نتایج تجربی
A. تاثیر تغییرات در پهنای باند فضایی hs
B. تاثیر تغییرات در پهنای باند دامنه‌ی hr
C. تاثیر تغییرات در آستانه‌ی پایان
d. تاثیر تغییرات در اندازه‌های پنجره برای ویژگی آنتروپی
E نتایج تست بیشتر
۴. نتیجه‌گیری

 


  • بخشی از ترجمه:

 

۴. نتیجه‌گیری
این مقاله، یک روش دید ماشینی مبتنی بر شیفت-میانگین را برای تشخیص نقص‌های اثر انگشت و آلودگی در ویفرهای خورشیدی چند-کریسنتالی ارائه داده است. انواع نقص شامل جهات گرادیان تصادفی هستند در حالی که یال‌های دانه‌ای نرمال به طور کلی جهات گرادیان سازگارتری را در یک پنجره‌ی فضایی کوچک ارائه می‌دهند. آنتروپی جهات گرادیان سپس به عنوان ویژگی دامنه استفاده می‌شود. مختصات پیکسل در راستای آنتروپی، فضای ویژگی تصویر را تشکیل می‌دهند. هموارسازی شیفتن میانگین به طور موثری می‌تواند سر و صدا و باقیمانده‌های یال‌های دانه‌ای کریستال را حذف کند و تنها پیکسل‌های معیوب در تصویر آنتروپی فیلتر شده را حفظ کند. بنابراین می‌توان از یک آستانه‌ی تطبیقی ساده برای تفکیک ناحیه‌ی دارای نقص در تصویر آنتروپی فیلتر شده استفاده کرد.


  • بخشی از مقاله انگلیسی:

 

IV. CONCLUSION

This paper has presented a mean shift-based machine vision method for detecting fingerprint and contamination defects in multicrystalline solar wafers. The defect types involve random gradient directions, whereas the normal grain edges generally present more consistent gradient directions in a small spatial window. The entropy of gradient directions is then used as the range feature. The pixel coordinates along with the entropy form the feature space of the image. The mean-shift smoothing can effectively remove noise and residuals of crystal grain edges and preserve only the defective pixels in the filtered image. A simple adaptive threshold can thus be used to segment the defective region in the filtered entropy image.


 

دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی

 

عنوان فارسی مقاله:

تشخیص نقص مبتنی بر شیفت میانگین سطوح ویفر خورشیدی چند – کریستالی

عنوان انگلیسی مقاله:

Mean Shift-Based Defect Detection in Multicrystalline Solar Wafer Surfaces

  • برای دانلود رایگان مقاله انگلیسی با فرمت pdf بر روی عنوان انگلیسی مقاله کلیک نمایید.
  • برای خرید و دانلود ترجمه فارسی آماده با فرمت ورد، روی عنوان فارسی مقاله کلیک کنید.

 

دانلود رایگان مقاله انگلیسی

 

خرید ترجمه فارسی مقاله

ارسال دیدگاه

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *