| دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی
|
|
| عنوان فارسی مقاله: |
بررسی روش های محاسبه سرعت تخریب فتوولتائیک |
| عنوان انگلیسی مقاله: |
Review of photovoltaic degradation rate methodologies |
|
|
| مشخصات مقاله انگلیسی (PDF) | |
| سال انتشار | 2014 |
| تعداد صفحات مقاله انگلیسی | 10 صفحه با فرمت pdf |
| رشته های مرتبط با این مقاله | مهندسی برق، مهندسی انرژی و مهندسی هسته ای |
| گرایش های مرتبط با این مقاله | انرژی های تجدید پذیر، فناوری های انرژی، انرژی و محیط زیست، سیستم های انرژی و مهندسی الکترونیک |
| مجله | بررسی انرژی تجدید پذیر و پایدار |
| دانشگاه | گروه فناوری فتوولتائیک، دپارتمان مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه قبرس |
| کلمات کلیدی | فتوولتائیک، تخریب، فرسایش در اثر هوا، دوام، تحلیل آماری |
| شناسه شاپا یا ISSN | ISSN 1364-0321 |
| رفرنس | دارد |
| لینک مقاله در سایت مرجع | لینک این مقاله در نشریه Elsevier |
| نشریه | Elsevier |
| مشخصات و وضعیت ترجمه فارسی این مقاله (Word) | |
| تعداد صفحات ترجمه تایپ شده با فرمت ورد با قابلیت ویرایش و فونت 14 B Nazanin | 29 صفحه |
| درج فرمولها و محاسبات در فایل ترجمه به صورت عکس | درج شده است |
- فهرست مطالب:
چکیده
1. مقدمه
2. تخریب فتوولتائیک های زمینی
2.1 محاسبه سرعت تخریب سیستم ها و ماژول های PV در میدان
2.1.1 عملکرد متریک PV
2.1.1.1 خصوصیات IV
2.1.1.2 مدل سازی رگرسیون
2.1.1.3 درجه بندی های مقیاسی
2.1.2 صلاحیت اندازه گیری و فیلتر
2.1.3 تجزیه تحلیل آماری
2.1.4 عدم قطعیت ها
2.1.5 تجزیه و تحلیل سرعت تخریب برای سیستم های PV میدانی
2.2 سرعت های تخریب ماژول های PV در (خلال) تسریع کهنگی
2.2.1 فرسایش در اثر آب و هوا
2.2.2 تخریب ناشی از پتانسیل
3.نتیجه گیری
- بخشی از ترجمه:
3.نتیجه گیری
ارزیابی دقیق و مؤثر عملکرد تخریب فناوری های PV قدم منطقی بعدی برای دست یابی به مزیت های PV است. به تازگی فناوری های کارآمد جدیدتری با دوام و عدم آسیب پذیری در برابر شرایط آب و هوایی نا معلوم ظهور کرده اند. پی بردن به عملکرد تخریب در شرایط واقعی نیاز کلیدی برای تعیین خصوصیات (characterization) آنها تحت شرایط آب و هوایی متغیر است. نتایج بررسی های تخریب PV و مقایسه فناوری های مختلف PV نگرشی کارآمد درمورد دوام هر کدام از فناوری ها و بهره وری آنها در طول عمرشان ارائه می کند. این مقاله نشان داد که محققان در حال پیشرفت در مورد تخریب PV و در نتیجه دوام طولانی مدت آن ها هستند.
در تجزیه و تحلیل های منتشر شده نشان داده شده است که سرعت تخریب فقط وابسته به فناوری نیست بلکه وابسته به روش نیز هست. روش هایی متفاوت برای محاسبه تخریب فناوری های مختلف به همراه نتایج آنها در قالب سرعت های تخریب ارائه شد. در مورد سرعت تخریب و دوام طولانی مدت، پژوهش هایی که به رسمیت شناخته شده اند، به استاندارد سازی روش های بررسی سرعت تخریب، شامل محدودیت های عدم قطعیت تجربی، فیلتر و تعیین صلاحیت داده های اندازه گیری، گرفتن میانگین، ردیابی پرت ها و روش های درجه بندی عملکرد که برای کاهش عدم قطعیت و تغییر پذیری و بنا نهادن گزارشات استاندارد سرعت های تخریب در فناوری های مختلف لازم است، اشاره دارد.
سر انجام این مقاله چهار روش عمدۀ تجزیه و تحلیل های آماری برای محاسبه سرعت تخریب را شناسایی و ارائه کرد : 1) رگرسیون خطی (LR) 2) تجزیه فصلی کلاسیک (CSD) 3) میانگین متحرک اتورگرسیون مجتمع (ARIMA) 4) LOESS و عملکردهای متریک مختلف در رابطه با این روش ها 1) پارامترهای الکتریکی منحنی های IV که تحت شرایط خارجی و یا شرایط شبیه سازی شده داخلی ثبت و ضبط شده و به STC اصلاح شده 2) مدل های رگرسیون از قبیل فتوولتائیک برای کاربردهای سودمند مقیاس (PVUSA) و مدل های ساندیا 3) درجه بندی های هنجار شده (normalized) مانند نسبت عملکرد، R_P ، و/ G_I P_MPP و 4) درجه بندی های مقیاسی (scaled ratings) مانند/ P_max P_MPP،/P_max P_AC و kWh/kW_P. تجزیه و تحلیل آماری نتایج بدست آمده از روش ها نشان داده است روش IV با PE، کمتری R_D را تولید می کند. روش LR نتایجی با عدم قطعیت و تغییرات قابل ملاحظه تولید کرد. روش CSD بالاترین R_D را برای mono-c-Si و multi-c-Si تولید کرد اما دارای عدم قطعیت کمتر از LR بود در حالیکه روش های ARIMA و LOESS، که محبوبیت کمتری دارند، برای تمام فناوری ها نتایجی با عدم قطعیت و تغییر کمتر تولید کردند و توافق وجود داشت.
- بخشی از مقاله انگلیسی:
3. Conclusions
The accurate and efficient evaluation of performance degradation of PV technologies is the next logical step to reaping the benefits of PV, as new, more efficient technologies emerge with unstudied and undefined durability and weatherability. Understanding of the performance degradation under real operating conditions is a key requirement for their successful characterization under varying meteorological conditions. The outcome of PV degradation assessments and the comparison of different PV technologies provide useful insight on the durability of each technology and their efficiency throughout their lifetime. In this paper it has been shown, from a number of published studies, that researchers are creating momentum with the degradation of PV and subsequently, their long-term durability. Through the analysis of published works, this review has shown that the degradation rate is not only technology dependent, but also methodology dependent. Many different methodologies for calculating degradation of different technologies were presented as well as their results in the form of degradation rates. In the case of degradation rates and long-term durability, the recognized research directions are pointing towards the standardization of methods for degradation rate assessment including experimental uncertainty limits, measurement data qualification and filtering, averaging, outlier detection and performance rating techniques required in order to reduce uncertainty and variability and to establish the standardized reporting of degradation rates for different technologies. Finally, this review paper identified and presented the four major statistical analysis methods for the calculation of degradation rates: (1) Linear Regression (LR), (2) Classical Seasonal Decomposition (CSD), (3) AutoRegressive Integrated Moving Average (ARIMA) and, (4) LOcally wEighted Scatterplot Smoothing (LOESS) and the different performance metrics used in conjunction with these methods: (1) electrical parameters from IV curves recorded under outdoor or simulated indoor conditions and corrected to STC, (2) regression models such as the Photovoltaics for Utility Scale Applications (PVUSA) and Sandia models, (3) normalized ratings such as Performance Ratio, RP, and PMPP/GI and, (4) scaled ratings such as PMPP/Pmax, PAC/Pmax and kWh/kWp. A statistical analysis of the results of the methodologies has shown that the IV method with PE produced the lowest RD. The LR method produced results with considerable variations and uncertainty. The CSD method produced the highest RD for mono-c-Si and multi-c-Si but with lower uncertainty than LR, whereas the ARIMA and LOESS methods, albeit less popular, produced results with low variation and uncertainty and with good agreement between them for all technologies.
| دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی
|
|
| عنوان فارسی مقاله: |
روش شناسی میزان تخریب فتوولتائیک |
| عنوان انگلیسی مقاله: |
Review of photovoltaic degradation rate methodologies |
|
|