این مقاله انگلیسی ISI در نشریه IEEE در 6 صفحه در سال 2016 منتشر شده و ترجمه آن 17 صفحه میباشد. کیفیت ترجمه این مقاله ویژه – طلایی ⭐️⭐️⭐️ بوده و به صورت کامل ترجمه شده است.
| دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی
|
|
| عنوان فارسی مقاله: |
عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC |
| عنوان انگلیسی مقاله: |
Functional Diagnosis for Graceful Degradation of NoC Switches |
|
|
| مشخصات مقاله انگلیسی (PDF) | |
| سال انتشار | 2016 |
| تعداد صفحات مقاله انگلیسی | 6 صفحه با فرمت pdf |
| رشته های مرتبط با این مقاله | مهندسی کامپیوتر، فناوری اطلاعات و فناوری اطلاعات و ارتباطات |
| گرایش های مرتبط با این مقاله | سوئیچ، دیتا و امنیت شبکه، سخت افزار و شبکه های کامپیوتری |
| مجله | سی امین سمپزیوم آزمون آسیایی – 25th Asian Test Symposium |
| دانشگاه | اشتوتگارت، آلمان |
| کلمات کلیدی | تست عملیاتی، حالت خرابی عملیاتی، دسته‌بندی خطاها، عیب‌یابی عملیاتی، ایجاد الگو، پیکربندی مجدد دانه‌ریز |
| رفرنس | دارد |
| لینک مقاله در سایت مرجع | لینک این مقاله در سایت IEEE |
| نشریه آی تریپل ای |  |
| مشخصات و وضعیت ترجمه فارسی این مقاله (Word) | |
| کیفیت ترجمه | ویژه – طلایی ⭐️⭐️⭐️ |
| تعداد صفحات ترجمه تایپ شده با فرمت ورد با قابلیت ویرایش و فونت 14 B Nazanin | 17 صفحه |
| ترجمه عناوین تصاویر و جداول | ترجمه شده است |
| ترجمه متون داخل تصاویر | ترجمه نشده است |
| ترجمه متون داخل جداول | ترجمه نشده است |
| درج تصاویر در فایل ترجمه | درج شده است |
| درج جداول در فایل ترجمه | درج شده است |
| درج فرمولها و محاسبات در فایل ترجمه به صورت عکس | درج شده است |
- فهرست مطالب:
چکیده
1. مقدمه
2. مقدمات
A. سوئیچ‌های NoC: ساختار و عملکرد
B. حالات خرابی عملیاتی
3. جریان عیب‌یابی
A. دیکشنری دسته بندی
B. الگوهای تست عملیاتی برای تفکیک پذیری عیب‌یابی بالا
C. تحلیل علائم برای پیکربندی مجدد
4. نتایج تجربی
A. دسته‌بندی
B. الگوهای تست عملیاتی
C. پیکربندی مجدد
V. نتیجه گیری
- بخشی از ترجمه:
V. نتیجه گیری
این مقاله یک روش عیب‌یابی عملیاتی را ارائه می دهد که اطلاعات مربوط به خطای ساختاری را برای پیکربندی مجدد استخراج می‌کند. مشخصه خرابی هر خطای ساختاری استخراج شده و در یک دیکشنری دسته‌بندی ذخیره می شود. این مشخصه، مجموعه ای از حالت‌های خرابی عملیاتی را مشخص می کند که به علت وجود خطای ساختاری در مدار تولید شده است. علاوه بر این، مجموعه ی پورت‌های خراب‌شده سوئیچ برای هر مشخصه خرابی استخراج می شود و در یک مخزن پیکربندی ذخیره می شود.
الگوهای تست عملیاتی برای تولید مشخصه خطای از قبل‌تعریف‌شده برای هر خطای ساختاری توسعه داده می شوند. بنابراین، با وجود نقص ها و با اعمال الگوهای تست عملیاتی به سوئیچ تحت تست، مشخصه خرابی استخراج می شود. با توجه به مشخصه مشاهده‌شده، دلایل ساختاری سوء عمل مشاهده‌شده در دیکشنری دسته‌بندی قابل یافتن است. علاوه بر این، پورت های سوئیچ مربوطه که می بایست غیر فعال شوند، از مخزن پیکربندی مجدد مورد جستجو قرار می گیرند. این کار، پیکربندی مجدد NoC های ناقص با استفاده از تست های عملیاتی را امکانپذیر می سازد.
- بخشی از مقاله انگلیسی:
V. CONCLUSION
This paper presented a functional diagnosis approach which extracts structural fault information for fine-grained reconfiguration. The failure signature of each structural fault is extracted and stored in a classification dictionary. The signature specifies the set of functional failure modes that are produced in the presence of a structural fault in the circuit. Moreover, the set of broken switch ports for each failure signature is extracted and saved in a reconfiguration storage. The functional test patterns are extended to generate the predefined failure signature for each structural fault. Thus, in the presence of defects and by applying the functional test patterns to the switch under test, the failure signature is extracted. With respect to the observed signature, the structural root causes of the observed malfunctions can be looked up from the classification dictionary. Moreover, the respective switch ports to be deactivated are looked up from the reconfiguration storage. This enables a fine-grained reconfiguration of the defective NoCs by using only functional tests.
|
تصویری از مقاله ترجمه و تایپ شده در نرم افزار ورد |
|
|
| دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی
|
|
| عنوان فارسی مقاله: |
تشخیص تابعی برای تنزل مطبوع تعویض NoC |
| عنوان انگلیسی مقاله: |
Functional Diagnosis for Graceful Degradation of NoC Switches |
|
|