دانلود ترجمه مقاله قطعات برای میکروسکوپ نیروی اتمی سریع – مجله الزویر

elsevier

گروه آموزشی ترجمه فا اقدام به ارائه ترجمه مقاله با موضوع ” قطعات برای میکروسکوپ نیروی اتمی سریع ” در قالب فایل ورد نموده است که شما عزیزان میتوانید پس از دانلود رایگان مقاله انگلیسی و نیز مطالعه نمونه ترجمه و سایر مشخصات، ترجمه را خریداری نمایید.

 

دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی

 

عنوان فارسی مقاله:

اجزای مختلف برای میکروسکوپ نیروی اتمی با سرعت بالا

عنوان انگلیسی مقاله:

Components for high speed atomic force microscopy

  • برای دانلود رایگان مقاله انگلیسی با فرمت pdf بر روی عنوان انگلیسی مقاله کلیک نمایید.
  • برای خرید و دانلود ترجمه فارسی آماده با فرمت ورد، روی عنوان فارسی مقاله کلیک کنید.

 

مشخصات مقاله انگلیسی (PDF)
سال انتشار ۲۰۰۶
تعداد صفحات مقاله انگلیسی ۷ صفحه با فرمت pdf
رشته های مرتبط با این مقاله فیزیک و مهندسی برق
گرایش های مرتبط با این مقاله بیوالکتریک
مجله یولترمیکرسکپی – Ultramicroscopy
دانشگاه گروه فیزیک، دانشگاه کالیفرنیا سانتا باربارا، ایالات متحده آمریکا
کلمات کلیدی میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، طراحی و مشخصه ابزار اسکن، کنترل و تنظیم دستگاه
شناسه شاپا یا ISSN ISSN ۲۰۰۶٫۰۱٫۰۱۵
رفرنس دارد
لینک مقاله در سایت مرجع لینک این مقاله در نشریه Elsevier
نشریه الزویر – Elsevier

 

مشخصات و وضعیت ترجمه فارسی این مقاله (Word)
تعداد صفحات ترجمه تایپ شده با فرمت ورد با قابلیت ویرایش و فونت ۱۴ B Nazanin ۱۱ صفحه
ترجمه عناوین تصاویر و جداول ترجمه شده است
ترجمه متون داخل تصاویر ترجمه نشده است
ترجمه متون داخل جداول ترجمه نشده است
درج تصاویر در فایل ترجمه درج شده است
درج جداول در فایل ترجمه درج شده است
درج فرمولها و محاسبات در فایل ترجمه به صورت عکس درج شده است

 


  • فهرست مطالب:

 

چکیده
۱٫ مقدمه
۲٫ کنسول های پایه ای کوچکتر
۳٫ طراحی اسکن با استحکام بالا
۴٫ اکتساب داده
۵٫ جمع بندی


  • بخشی از ترجمه:

 

۵٫ جمع بندی
در این کار، ما بهبود های مختلفی را که برای AFM های سریع ایجاد کرده ایم، توصیف کردیم. با استفاده از سنسور های پایه ای کوچک ( ۱۰ um عرض، ۱۰۰nm ضخامت)، ما پهنای باند این سنسور های پایه ای را افزایش دادیم و تراکم توان نویز را نیز کاهش دادیم. یک مفهوم طراحی اسکنر به ما امکان سرعت بالای اسکن را میدهد اما همچنان سایز اسکن ۱۵um باقی میماند. این دو بهبود را میتوان به صورت تک به تک استفاده کرد، که به ما این امکان را میدهد تا سرعت اسکن را در مقایسه با سیستم های متداول افزایش دهیم. ترکیبی از این دو مفهوم، همراه با استفاده از DAQ های سریع و روش های بهبود یافته کنترل، امکان افزایش بیشتر سرعت اسکن را فراهم میکند.


  • بخشی از مقاله انگلیسی:

۵٫ Conclusion

In this work, we have described several improvements we have made for high speed AFM. Using small cantilevers (10 mm wide, 100 nm thick), we increase the bandwidth of the cantilever and reduce its noise power density. A new scanner design concept allows higher scan speeds while still retaining a 15 mm scan size. These two improvements can be used individually, as each will allow an increase of the scan speed compared to conventional systems. A combination of the two, together with the use of a faster DAQ system and improved control methods, will allow for further increases of the scan speed.


 

تصویری از مقاله ترجمه و تایپ شده در نرم افزار ورد

 

 

دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی

 

عنوان فارسی مقاله:

قطعات برای میکروسکوپ نیروی اتمی سریع

عنوان انگلیسی مقاله:

Components for high speed atomic force microscopy

  • برای دانلود رایگان مقاله انگلیسی با فرمت pdf بر روی عنوان انگلیسی مقاله کلیک نمایید.
  • برای خرید و دانلود ترجمه فارسی آماده با فرمت ورد، روی عنوان فارسی مقاله کلیک کنید.

 

دانلود رایگان مقاله انگلیسی

 

خرید ترجمه فارسی مقاله

ارسال دیدگاه

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *