گروه آموزشی ترجمه فا اقدام به ارائه ترجمه مقاله با موضوع ” قطعات برای میکروسکوپ نیروی اتمی سریع ” در قالب فایل ورد نموده است که شما عزیزان میتوانید پس از دانلود رایگان مقاله انگلیسی و نیز مطالعه نمونه ترجمه و سایر مشخصات، ترجمه را خریداری نمایید.
| دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی
|
|
| عنوان فارسی مقاله: |
اجزای مختلف برای میکروسکوپ نیروی اتمی با سرعت بالا |
| عنوان انگلیسی مقاله: |
Components for high speed atomic force microscopy |
|
|
| مشخصات مقاله انگلیسی (PDF) | |
| سال انتشار | 2006 |
| تعداد صفحات مقاله انگلیسی | 7 صفحه با فرمت pdf |
| رشته های مرتبط با این مقاله | فیزیک و مهندسی برق |
| گرایش های مرتبط با این مقاله | بیوالکتریک |
| مجله | یولترمیکرسکپی – Ultramicroscopy |
| دانشگاه | گروه فیزیک، دانشگاه کالیفرنیا سانتا باربارا، ایالات متحده آمریکا |
| کلمات کلیدی | میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، طراحی و مشخصه ابزار اسکن، کنترل و تنظیم دستگاه |
| شناسه شاپا یا ISSN | ISSN 2006.01.015 |
| رفرنس | دارد |
| لینک مقاله در سایت مرجع | لینک این مقاله در نشریه Elsevier |
| نشریه | الزویر – Elsevier |
| مشخصات و وضعیت ترجمه فارسی این مقاله (Word) | |
| تعداد صفحات ترجمه تایپ شده با فرمت ورد با قابلیت ویرایش و فونت 14 B Nazanin | 11 صفحه |
| ترجمه عناوین تصاویر و جداول | ترجمه شده است |
| ترجمه متون داخل تصاویر | ترجمه نشده است |
| ترجمه متون داخل جداول | ترجمه نشده است |
| درج تصاویر در فایل ترجمه | درج شده است |
| درج جداول در فایل ترجمه | درج شده است |
| درج فرمولها و محاسبات در فایل ترجمه به صورت عکس | درج شده است |
- فهرست مطالب:
چکیده
1. مقدمه
2. کنسول های پایه ای کوچکتر
3. طراحی اسکن با استحکام بالا
4. اکتساب داده
5. جمع بندی
- بخشی از ترجمه:
5. جمع بندی
در این کار، ما بهبود های مختلفی را که برای AFM های سریع ایجاد کرده ایم، توصیف کردیم. با استفاده از سنسور های پایه ای کوچک ( 10 um عرض، 100nm ضخامت)، ما پهنای باند این سنسور های پایه ای را افزایش دادیم و تراکم توان نویز را نیز کاهش دادیم. یک مفهوم طراحی اسکنر به ما امکان سرعت بالای اسکن را میدهد اما همچنان سایز اسکن 15um باقی میماند. این دو بهبود را میتوان به صورت تک به تک استفاده کرد، که به ما این امکان را میدهد تا سرعت اسکن را در مقایسه با سیستم های متداول افزایش دهیم. ترکیبی از این دو مفهوم، همراه با استفاده از DAQ های سریع و روش های بهبود یافته کنترل، امکان افزایش بیشتر سرعت اسکن را فراهم میکند.
- بخشی از مقاله انگلیسی:
5. Conclusion
In this work, we have described several improvements we have made for high speed AFM. Using small cantilevers (10 mm wide, 100 nm thick), we increase the bandwidth of the cantilever and reduce its noise power density. A new scanner design concept allows higher scan speeds while still retaining a 15 mm scan size. These two improvements can be used individually, as each will allow an increase of the scan speed compared to conventional systems. A combination of the two, together with the use of a faster DAQ system and improved control methods, will allow for further increases of the scan speed.
|
تصویری از مقاله ترجمه و تایپ شده در نرم افزار ورد |
|
|
| دانلود رایگان مقاله انگلیسی + خرید ترجمه فارسی
|
|
| عنوان فارسی مقاله: |
قطعات برای میکروسکوپ نیروی اتمی سریع |
| عنوان انگلیسی مقاله: |
Components for high speed atomic force microscopy |
|
|